機器紹介：

JT-607 Cめっき層厚測定器は設計構造がコンパクトで、モジュールの精密化の程度が極めて高いめっき層厚測定器であり、C型溝が開いてサンプルキャビティを設計し、それに超微小サンプルを測定できる検査を満足させると同時に、サンプルキャビティのサイズを超える大きなワーク測定を満足させることができる。各種製品の品質管理、来料検査及び生産プロセス制御の測定使用に広く使用されている。多種のコリメータ（0.05 mm、0.1 mm、0.2 mm、0.5 mm）の自動切り替えを持つ高精度X線蛍光分光測定器である。小面積めっき層、繰り返しめっき層、凹凸サンプル試験に適している。

機器の特徴：

1）マイクロフォーカス強化型X線発生器と先進的な光路変換フォーカスシステムを搭載し、各微小な部品を測定可能

最小測定面積は0.002mm²

2）非破壊ズーム検出技術、手動ズーム機能を持ち、各種異形溝部品に対して非破壊検出を行うことができ、溝深さ範囲0-90 mm

3）コアEFPアルゴリズム、多層元素、同種元素を含む異なる層で迅速・準・安定にデータ分析（ネオジム鉄ホウ素磁石上のNi／Cu／Ni／FeNdB、第一層Niと第三層Niの厚さを正確に測定）

4）高精密マイクロ移動レールを搭載し、多点位置、多サンプルの正確な変位と同時検出を実現できる

5）同時に23個のめっき層、24中の元素を分析でき、測定元素範囲：塩素CL（17）---ウランU（92）、めっき層分析範囲：塩素CL（17）/リチウムLi---ウランU（92）、めっき層最低検出限界：0.005μm

6）ヒューマン化されたクローズドソフトウェア、自動的に故障を判断して修正と操作手順を提示し、誤操作を避ける

7）標準配置は2つのコリメータのいずれかを選択し、最小測定面積は0.002 mm²に達することができる

8）微小光集束技術を備え、最近の測距光スポットの拡散度は10%未満である

関連製品：

二次元映像計2.5次元映像計ワンタッチ測定器ガラス厚測定器分光計